| 000 -CABECERA |
|---|
| Longitud fija campo de control |
00995 a a2200217 04500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| Número de control |
2588 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| Identificador del número de control |
OSt |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
|---|
| Fecha y hora de la última transacción |
20160916152300.0 |
| 008 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA |
|---|
| Códigos de información de longitud fija |
151110b xxu||||| |||| 00| 0 eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL NORMALIZADO PARA LIBROS |
|---|
| Número Internacional Normalizado para Libros (ISBN) |
3540568492 |
| 041 ## - CÓDIGO DE LENGUA |
|---|
| Código de lengua del texto;banda sonora o título independiente |
eng |
| 082 0# - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY |
|---|
| Número de clasificación |
502 |
| Número de documento |
R363 3ed. |
| 100 40 - PUNTO DE ACCESO PRINCIPAL-NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Reimer, Ludwig |
| 9 (RLIN) |
11868 |
| 245 0# - MENCIÓN DE TÍTULO |
|---|
| Título |
Transmission electron microscopy : |
| Resto del título |
Physics of image formation and microanalysis / |
| Mención de responsabilidad, etc. |
Ludwig Reimer |
| 250 4# - MENCIÓN DE EDICIÓN |
|---|
| Mención de edición |
3a. ed. |
| 260 4# - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. (PIE DE IMPRENTA) |
|---|
| Lugar de publicación, distribución, etc. |
New York (State) : |
| Nombre del editor, distribuidor, etc. |
Springer-Verlag, |
| Fecha de publicación, distribución, etc. |
1993 |
| 300 4# - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
|---|
| Extensión |
545 p. |
| 505 ## - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
|---|
| Nota de contenido con formato |
1. Introduction 2. Particle optics of electrons 3. Wave optics of electrons 4. Elements of transmission electron microscope 5. Electron-specimen interactions 6. Scattering and phase contrast for amorphous specimens 7. Kinematical and dynamical theory of electron diffraction 8. Diffraction constrast and crystal-structure imaging 9. Analytical electron microscopy 10. Specimen damage by electron irradiation. |
| 650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Microanalysis |
| 9 (RLIN) |
18821 |
| 942 ## - ENTRADA DE ELEMENTOS AGREGADOS (KOHA) |
|---|
| Fuente de clasificaión o esquema |
|
| Koha [por defecto] tipo de item |
Libro OptoElectrónica |
