000 -CABECERA |
Campo de control de longitud fija |
00883nam a2200181 4500 |
007 - PHYSICAL DESCRIPTION FIXED FIELD--GENERAL INFORMAT |
Campo de control de longitud fija |
ta |
008 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
Campo de control de longitud fija |
160608b xxu||||| |||| 00| 0 eng d |
041 ## - CÓDIGO DE IDIOMA |
Código de idioma para texto, pista de sonido o título separado |
spa |
082 ## - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY |
Número de clasificación |
T621.381 |
Número de documento |
Q78 |
100 40 - ENCABEZAMIENTO PRINCIPAL--NOMBRE PERSONAL |
Nombre de persona |
Quintero, Leidy Johana.; Uribe, Jorge Mario |
9 (RLIN) |
12101 |
245 0# - MENCIÓN DE TÍTULO |
Título |
Actualización del Hardware del perfilometro "Veeco Dektak 8000" / |
Mención de responsabilidad, etc. |
Leidy Johana Quintero; Jorge Mario Uribe |
260 4# - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC (PIE DE IMPRENTA) |
Lugar de publicación, distribución, etc. |
Armenia : |
Nombre del editor, distribuidor, etc. |
Universidad del Quindío, |
Fecha de publicación, distribución, etc. |
2013 |
300 4# - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
Extensión |
p.v. |
Otros detalles físicos |
il. |
502 ## - NOTA DE TESIS |
Entidad que otorga el grado |
Universidad del Quindío |
Fecha del grado |
2013 |
Facultad que otorga el grado |
Facultad de Ingeniería |
Programa que otorga el grado |
Ingeniería Electrónica |
520 ## - RESUMEN, ETC. |
Nota de sumario, etc. |
Con el presente trabajo mostramos el proceso de diseño y construcción de un cromatografo de gases, con el cual se pueden realizar separaciones de determinadas muestras y analizar sus concentraciones moleculares y obtener los resultados gráficamente. |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Electrónica |
9 (RLIN) |
684 |
942 ## - ELEMENTOS KOHA |
Fuente de clasificación o esquema de ordenación en estanterías |
|
Koha tipo de item |
Tesis |