Caracterización de materiales policristalinos con difracción de rayos X por el método de polvos / Aurelia María Leticia Baños López
By: Baños López, Aurelia María Leticia
Material type: 
TextLanguage: Spanish Publisher: México : Instituto de Materiales. UNAM, 2007Description: 77 pSubject(s): Difracción de Rayos X | Materiales policristalinosDDC classification: 530.41
Contents:
1. Introducción. 2. Naturaleza y producción de los rayos X. 3. Fenómenos de interacción de los rayos X con la materia. 4. Técnicas analíticas con Rayos X. 5. Principales aplicaciones de Método de Polvos. 6. Preparación de muestras. 7. Condiciones instrumentales de barrido. 8. Observaciones
| Item type | Current location | Collection | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode |
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Libro OptoElectrónica
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Laboratorio de Optoelectrónica RESERVA | Papel | 530.41 B212 (Browse shelf) | Ej. 1 | Available | L000683 | |
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Libro OptoElectrónica
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Laboratorio de Optoelectrónica GENERAL | Papel | 530.41 B212 (Browse shelf) | Ej. 2 | Available | L000880 |
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| 530.15 W982 Mathematical methods for physics / | 530.1595 / A312 Métodos de la física estadística / | 530.41 A823 Solid state physics / | 530.41 B212 Caracterización de materiales policristalinos con difracción de rayos X por el método de polvos / | 530.41 F189 La estructura electrónica de los sólidos / | 530.41 H174 Física del estado sólido / Hall, H. E. | 530.41 H318 Solid state theory / Harrison, Walter A. |
1. Introducción. 2. Naturaleza y producción de los rayos X. 3. Fenómenos de interacción de los rayos X con la materia. 4. Técnicas analíticas con Rayos X. 5. Principales aplicaciones de Método de Polvos. 6. Preparación de muestras. 7. Condiciones instrumentales de barrido. 8. Observaciones
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