| 000 -CABECERA |
|---|
| Campo de control de longitud fija |
01176 a a2200241 04500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| Campo de control |
2604 |
| 003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| Campo de control |
OSt |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
|---|
| Campo de control |
20160916151832.0 |
| 008 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| Campo de control de longitud fija |
150818b xxu||||| |||| 00| 0 eng d |
| 020 ## - ISBN (INTERNATIONAL STANDARD BOOK NUMBER) |
|---|
| ISBN |
3540536159 |
| 041 ## - CÓDIGO DE IDIOMA |
|---|
| Código de idioma para texto, pista de sonido o título separado |
eng |
| 082 0# - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY |
|---|
| Número de clasificación Decimal |
530.412 |
| Número de documento (Cutter) |
S732 |
| 100 40 - ENCABEZAMIENTO PRINCIPAL--NOMBRE PERSONAL |
|---|
| Nombre de persona |
Spaeth, Johann-Martin. |
| 9 (RLIN) |
10048 |
| 245 ## - TÍTULO PROPIAMENTE DICHO |
|---|
| Título |
Structural analysis of point defects in solids: |
| Parte restante del título |
An introduction to multiple magnetic resonance spectroscopy / |
| Mención de responsabilidad, etc. |
Johann-Martin Spaeth |
| 260 4# - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC (PIE DE IMPRENTA) |
|---|
| Lugar de publicación, distribución, etc. |
New York (State) : |
| Nombre del editor, distribuidor, etc. |
Springer-Verlag, |
| Fecha de publicación, distribución, etc. |
1992 |
| 300 4# - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
|---|
| Extensión |
367 p. |
| 505 ## - NOTA DE CONTENIDO FORMATEADA |
|---|
| Nota de contenido con formato preestablecido |
1. Introduction. 2. Fundamentals of electron paramagnetic resonance. 3. Electron paramagnetic resonance spectra 4. Optical detection of electron paramagnetic resonance 5.Electron nuclear double resonance 6.Determination of defect symmetries from ENDOR angular dependence. 7.Theoretical interpretation of superhyperfine and quadrupole interactions. 8.Technology of ENDOR spectrometers. 9.Experimental aspects of óptically detected EPR and ENDOR |
| 650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Solids |
| 9 (RLIN) |
10069 |
| 650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Optical Properties |
| 9 (RLIN) |
10074 |
| 650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Defects |
| 9 (RLIN) |
18820 |
| 700 40 - ENCABEZAMIENTO SECUNDARIO--NOMBRE PERSONAL |
|---|
| Nombre de persona |
Niklas, Jürgen R.; Bartram, Ralph H. |
| 9 (RLIN) |
10049 |
| 942 ## - ELEMENTOS KOHA |
|---|
| Fuente de clasificación o esquema de ordenación en estanterías |
|
| Koha tipo de item |
Libro OptoElectrónica |
