000 -CABECERA |
Longitud fija campo de control |
00746 a a2200217 04500 |
001 - NÚMERO DE CONTROL |
Número de control |
2568 |
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
Identificador del número de control |
OSt |
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
Fecha y hora de la última transacción |
20160916144608.0 |
008 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA |
Códigos de información de longitud fija |
150810b xxu||||| |||| 00| 0 eng d |
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL NORMALIZADO PARA LIBROS |
Número Internacional Normalizado para Libros (ISBN) |
354059129X |
041 ## - CÓDIGO DE LENGUA |
Código de lengua del texto;banda sonora o título independiente |
eng |
082 0# - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY |
Número de clasificación |
621.381'52 |
Número de documento |
B344 |
100 40 - PUNTO DE ACCESO PRINCIPAL-NOMBRE DE PERSONA |
Nombre de persona |
Bauer, Günther |
9 (RLIN) |
9944 |
245 0# - MENCIÓN DE TÍTULO |
Título |
Optical characterization of epitaxial semiconductor layers / |
Mención de responsabilidad, etc. |
Günther Bauer |
260 4# - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. (PIE DE IMPRENTA) |
Lugar de publicación, distribución, etc. |
New York : |
Nombre del editor, distribuidor, etc. |
Springer, |
Fecha de publicación, distribución, etc. |
1996 |
300 4# - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
Extensión |
429 p. |
505 ## - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
Nota de contenido con formato |
1. Introduction. 2. Analysis of epitaxial growth. 3. Spectroscopic ellipsometry. 4. Raman Spectroscopy. 5. Far-Infrared spectroscopy. 6. High resolution X-Ray Diffraction |
650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA |
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Semiconductor Layers |
9 (RLIN) |
9945 |
700 40 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL - NOMBRE DE PERSONA |
Nombre de persona |
Richter, Wolfgang. |
9 (RLIN) |
9946 |
942 ## - ENTRADA DE ELEMENTOS AGREGADOS (KOHA) |
Fuente de clasificaión o esquema |
|
Koha [por defecto] tipo de item |
Libro OptoElectrónica |